減反射膜反射比智能測試儀特點
- 減反射膜反射比智能測試儀是具有良好結構設計和精密的雙光束光學系統(tǒng)的儀器，可以測試的材料有：具光學性能的分子材料制成的眼鏡片，太陽鏡，駕駛用鏡，偏光鏡等滿足GB-10810.3-2006測試標準。
- 關鍵部件均選用進口器件，濱松無臭氧環(huán)保型氘燈，德國歐士朗鎢燈，美國派來茲檢測器。保證了儀器性能的高可靠性。
- 具有開放式的樣品室設計，反射樣品架、固體樣品架、于光學鍍膜高反和低反檢測、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線測試。
- 掃描曲線可以和TFC膜系設計軟件對接，以便鍍膜時及時調整參數(shù)。
主要技術指標
| ★★光路結構 | CT型 單色器焦距250mm |
| 顯示方式： | 6英寸 320×240 點陣帶背光數(shù)字 LCD |
| ★★光源燈： | 預調日本濱松無臭氧環(huán)保型氘燈 歐司朗長壽命鹵鎢燈 |
| 測光方式 | 透過率，吸光度，能量，反射率 |
| 光譜帶寬 | 2nm |
| 波長范圍 | 190nm～1100nm |
| 波長準確度 | ≤±0.3nm |
| 波長重復性 | ≤0.1nm |
| ★光度范圍 | 0-999.9%(t),-4A～4A，0-9999C，1-9999F |
| 光度準確度 | ≤±0.3%(t) (0～100%t) ≤±0.002A(0～0.5A) ≤±0.004A(0.5～1A) |
| 光度重復性 | ≤0.15%(t) (0-100%t) ≤0.001A(0～0.5A) ≤0.002A(0.5～1A) |
| 雜光 | ≤0.03%(t) （220nm NaI，360nm NaNO2）） |
| ★穩(wěn)定性 | ≤±0.0004A/h（500nm，開機預熱30min） |
| 噪聲 | ≤±0.0003A |
| ★基線平直度 | ≤±0.001A（190～1100nm） |
| ★★導數(shù)分辨率 | >0.5 |
| 掃描速度 | 快 中 慢 |
| ★★電源電壓 | 100V～240V范圍內(nèi)都可以使用 50/60±1Hz |
| 儀器尺寸
| 650×450×220（mm） |
●光譜測量
峰谷檢測 掃描參數(shù)設定 掃描圖譜
以下為客戶樣品實測數(shù)據(jù)：
用戶樣品鏡片反射曲線
導出數(shù)據(jù)： 另存為文本格式：
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