光度噪聲對分析測試誤差的影響
在光度分析中, 特別在紫外可見光度分析中, 光度噪聲( Photomet ricNoise ) 是影響比耳定律偏離的zui主要因素之一, 是主要分析誤差的來源。若已知光度噪聲為N, 則可根據A. J. Owen 提出的計算公式: 噪聲誤差(%) =N×100/ A, 計算出不同N 的情況下, 吸光度的相對誤差ΔA/ A (ΔA 為吸光度誤差, A 為吸光度真值) 與A 的關系。或求出不同A 的情況下, ΔA/ A與N 的關系。
目前國內外有些儀器制造者和使用者們, 不注重儀器的光度噪聲對分析測試結果的影響。有的廠商甚至在樣本上不給出光度噪聲這個重要指標。有些廠商( 技術人員) 在測試光度噪聲時, 只測15min 或30min , 這些都是不對的,是值得注意的重要問題。
紫外可見分光光度計的光度噪聲是分析誤差的主要來源之一, 它主要影響或限制是被測試樣濃度的下限。目前, 上zui的紫外可見分光光度計的光度噪聲為±0. 0002Abs ( 峰-峰值, 如美國Va rian 公司的Ca ry5 )。它的測量下限在0. 02Abs 時, 測量誤差可達到1%。國外還有許多紫外可見分光光度計的光度噪聲都在±0. 0002Ab s ( 峰-峰值, 如美國P-E 公司的Lambda900 等)。這些光度噪聲很低的紫外可見分光光度計, 在海洋生物學和生命科學的研究工作中, 或在分析小量樣品時, 是非常有實用價值的。目前國產的紫外可見分光光度計, 光度噪聲都比較大。只有極少數儀器的光度噪聲很小, 如北京普析通用公司的TU-1901 , 其光度噪聲為±0. 0004Abs(峰-峰值) 。 噪聲限制的測量下限為0. 04Abs 時, 由噪聲引起的測量誤差還可達到1%。所以, 我國的紫外可見分光光度計制造者們, 要下大工夫去努力降低儀器的光度噪聲。
目前, 國內外的許多生產廠商, 不在樣本中給出儀器的光度噪聲, 這是不妥當的。因為, 不給出儀器的光度噪聲, 使用者就無法判斷儀器在低濃度下是否適用, 其靈敏度、準確度是否能達到使用要求, 很難判斷儀器的適用性和可靠性, 將給使用者帶來很大的麻煩。因此, 不管是低檔紫外可見分光光度計,還是紫外可見分光光度計, 都應向使用者提供光度噪聲這個極其重要的關鍵技術指標。紫外可見分光光度計的光度噪聲與掃描速度是有很大的關系的。一般來講, 掃描速度很快的紫外可見分光光度計的噪聲肯定是大的。反之, 如果一臺紫外可見分光光度計的噪聲很小, 那它的掃描速度是不會太快的。所以, 目前上許多紫外可見分光光度計的制造商, 設計時都考慮到了掃描速度和光度噪聲之間的關系, 不會把掃描速度作得很快, 而把光度噪聲作得很大。反之, 他們也不會把光度噪聲作得很小, 而把掃描速度作得很慢。但目前, 國外的確有些制造商把他們的紫外可見分光光度計的掃描速度作得很快, 而忽視光度噪聲, 這是不對的。因為一般來講, 紫外可見分光光度計的掃描速度沒有光度噪聲重要。起碼掃描速度對分析測試誤差沒有影響。而噪聲則是主要分析誤差的來源之一。